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　　X 和 Y 轴可在多个字段中进行选择，包括：专利申请人、专利申请国家、 CPC 分类、IPC 分类、美国专利分类、申请年、优先权年、公开年、失效年等， 另外用户对专利的标引标签也可作为自定义的选择字段进行分析。

　　本次春季新功能测试版除了增加 3D 专利分析图表之外， 还加入了 PAIR （美 国专利申请信息）的数据，用户可对美国申请专利、授权专利的申请、审查、法 律状态等信息进行跟踪， 帮助我们在申请美国专利或进行美国专利布局时做出正 确的决定。

　　Innography 3D 图表分析于 2016 年 3 月发布测试版，除了原有的专利权 人竞争力气泡图、IPC 分类树状图等多维度分析图表外，Innography 用户现可 自定义 X/Y/Z 轴来对专利进行分析，分析结果可以矩阵图、气泡图、折线图等 多种形式呈现。